1. INFORMAŢII GENERALE
2. EVALUARE
3. CONŢINUTURI
4. ORAR

1. Informaţii generale

Disciplină din planul de învăţământ al programului de masterat “Ingineria calităţii şi siguranţei în funcţionare în electronică şi telecomunicaţii” (ICSFET)

Titular: prof. dr. ing. Angelica BACIVAROV

Obiectivul general al disciplinei „Diagnoza defectelor şi proiectarea pentru testabilitate” constă în studiul conceptelor de bază privind diagnoza sistemelor și al arhitecturilor sistemelor pentru a fi facil testabile / mentenabile. Se dezvoltă problematica generării automate a vectorilor de test atât pentru circuitele electronice, cât şi pentru sistemele mari. Maniera de prezentare a noţiunilor generale oferă studenţilor posibilitatea de a aborda ulterior orice arhitectură concretă de sistem. Disciplina dezvoltă abilitatea proiectării şi rulării unor algoritmi de sinteză a testelor de diagnoză pentru sistemele cu circuite electronice, a proiectării unor sisteme facil testabile, a realizării unor cercetări în vederea evidenţierii diferitor tipuri de defecte.

Fișa disciplinei DDPT

2. Evaluare

– aprecierea activităţii la laborator: 40%
– teme de casă: 20%
– examen final (scris): 40%.

3. Conţinuturi

Conţinutul cursului
1. Concepte de bază.
1.1. Mecanisme şi moduri de defectare.
1.2. Detecţie defecte.
1.3. Diagnoză defecte.
1.4. Testabilitate.

2. Metode de generare a secvenţelor de test la nivelul sistemelor.
2.1. Modelarea defectelor.
2.2. Simularea defectelor.
2.3. Metode de generare a vectorilor de test.
2.4. Tehnici de rulare a testelor.

3. Generarea secvenţelor de test la nivelul circuitelor integrate.
3.1. Teste deterministe.
3.2. Teste aleatoare.
3.3. Teste parametrice.
3.4. Teste neparametrice.

4. Echipamente pentru testarea sistemelor cu circuite electronice.
4.1. Testarea fără contact a circuitelor integrate.
4.2. Testarea cu fascicole de electroni. Microscopul electronic cu baleiaj.
4.3. Generarea stimulilor de test.
4.4. Analizorul logic.
4.5. Analizorul de semnatură.

5. Conceperea circuitelor pentru testabilitate.
5.1. Principii.
5.2. Tehnici LSSD.
5.3. Scan Path.
5.4. Celule Boundary Scan.
5.5. Standardele IEEE 1149.x.

6. Proiectarea sistemelor autotestabile.
6.1. Principii de realizare.
6.2. Sisteme total autotestabile cu structura redundantă separabilă.
6.3. Sisteme total autotestabile cu structura redundantă neseparabilă.
6.4. Structura circuitelor de control.

7. Generarea secvenţelor de test la nivel software.
7.1. Specificaţii de test şi verificarea protocoalelor.
7.2. Diagnoza defectelor la nivel de sistem în PVM (Parallel Virtual Machine).
7.3. Testare manuală. Testare automată.

Conţinutul laboratorului
1. Generarea vectorilor de test pentru circuite logice combinaţionale prin metoda căii sensitive. Generarea secvenţelor de test prin metode algebrice.
2. Proiectarea unui experiment de testare pentru scheme logice secvenţiale.
3. Generarea secvenţelor de test prin metode statistice.
4. Testarea echipamentelor electronice complexe cu analizoare logice si analizoare de semnătură.
5. Instrumente pentru testarea performanțelor software ale unui sistem.
6. Testarea funcţionalã a unui sistem software. Studiu de caz asupra sistemului de operare Android.
7. Studii asupra proiectării activităților de mentenanță preventivă.

Bibliografie:
1. Cătuneanu, V., Bacivarov, Angelica, Structuri electronice de înaltă fiabilitate. Toleranţa la defectări, Editura Militară, Bucureşti, 1989
2. M. Abramovici, M. A. Breuer and A. D. Friedman, Digital Systems Testing and Testable Design, Computer Science Press, New York, NY, 1996
3. Suport în platforma Moodle

4. Orar

Orarul valabil pentru semestrul curent: www.euroqual.pub.ro/orar/