Diagnoza defectelor şi proiectarea pentru testabilitate

1. INFORMAŢII GENERALE
2. EVALUARE
3. CONŢINUTUL CURSULUI
4. CONŢINUTUL LABORATORULUI
5. ORAR
6. Download

1. Informaţii generale

An Sem Denumirea disciplinei C S L P p.c. Evaluare
2 3 Diagnoza defectelor şi proiectarea pentru testabilitate 2 - 2 - 4 E
Notă: C – Curs | S – Seminar | L – Laborator | P – Proiect | E – Examen | V – Verificare | A/R – Admis/Respins | p.c. – puncte credit

Disciplină din planul de învăţământ al programului de master universitar de cercetare “Ingineria calităţii şi siguranţei în funcţionare în electronică şi telecomunicaţii” (ICSFET)

Titular: prof. dr. ing. Angelica BACIVAROV

Obiectivele disciplinei:
- Curs: studiul conceptelor de bază privind diagnoza sistemelor, precum şi studiul arhitecturilor sistemelor pentru a fi facil testabile/mentenabile. Se dezvoltă atât problematica generării automate vectorilor de test pentru circuitele electronice, cât şi pentru sistemele mari. Maniera de prezentare a noţiunilor generale oferă studenţilor posibilitatea de a aborda ulterior orice arhitectură concretă de sistem.
- Aplicaţii: evidenţierea metodelor de bază folosite pentru generarea vectorilor de test, a algoritmilor pentru realizarea sistemelor facil testabile. Vor fi realizate aplicaţii concrete în care studenţii vor fi implicaţii atât la realizarea componentei software, cât şi a celei hardware.

Competenţe specifice:
Disciplina se încadrează în grupul disciplinelor de pregătire specifice programului de master. Atât cursul, cât şi lucrările de laborator, dezvoltă abilitatea proiectării şi rulării unor algoritmi de sinteză a testelor de diagnoză pentru sistemele cu circuite electronice, a proiectării unor sisteme facil testabile, a realizării unor cercetări în vederea evidenţierii diferitor tipuri de defecte.

2. Evaluare

- aprecierea activităţii la laborator: 20%
- lucrare de verificare, teme de casă: 40%
- examen final (scris): 40%.

3. Conţinutul cursului

1. Concepte de bază.
1.1. Mecanisme şi moduri de defectare.
1.2. Detecţie defecte.
1.3. Diagnoză defecte.
1.4. Testabilitate.

2. Metode de generare a secvenţelor de test la nivelul sistemelor.
2.1. Modelarea defectelor.
2.2. Simularea defectelor.
2.3. Metode de generare a vectorilor de test.
2.4. Tehnici de rulare a testelor.

3. Generarea secvenţelor de test la nivelul circuitelor integrate.
3.1. Teste deterministe.
3.2. Teste aleatoare.
3.3. Teste parametrice.
3.4. Teste neparametrice.

4. Echipamente pentru testarea sistemelor cu circuite electronice.
4.1. Testarea fără contact a circuitelor integrate.
4.2. Testarea cu fascicole de electroni. Microscopul electronic cu baleiaj.
4.3. Generarea stimulilor de test.
4.4. Analizorul logic.
4.5. Analizorul de semnatură.

5. Conceperea circuitelor pentru testabilitate.
5.1. Principii.
5.2. Tehnici LSSD.
5.3. Scan Path.
5.4. Celule Boundary Scan.
5.5. Standardele IEEE 1149.x.

6. Proiectarea sistemelor autotestabile.
6.1. Principii de realizare.
6.2. Sisteme total autotestabile cu structura redundantă separabilă.
6.3. Sisteme total autotestabile cu structura redundantă neseparabilă.
6.4. Structura circuitelor de control.

7. Generarea secvenţelor de test la nivel software.
7.1. Specificaţii de test şi verificarea protocoalelor.
7.2. Diagnoza defectelor la nivel de sistem în PVM (Parallel Virtual Machine).

4. Conţinutul laboratorului

1. Generarea vectorilor de test pentru circuite logice combinaţionale prin metoda căii sensitive. Generarea secvenţelor de test prin metode algebrice.
2. Proiectarea unui experiment de testare pentru scheme logice secvenţiale.
3. Generarea secvenţelor de test prin metode statistice.
4. Testarea echipamentelor electronice complexe cu analizoare logice si analizoare de semnătură.
5. Testarea circuitelor integrate prin inspecţie optică automată, SNOM.
6. Testarea circuitelor integrate cu microscopul electronic cu baleiaj.
7. Proiectarea circuitelor de control pentru structuri autotestabile date.

Bibliografie:

1. Cătuneanu, V., Bacivarov, Angelica, Structuri electronice de înaltă fiabilitate. Toleranţa la defectări, Editura Militară, Bucureşti, 1989
2. M. Abramovici, M. A. Breuer and A. D. Friedman, Digital Systems Testing and Testable Design, Computer Science Press, New York, NY, 1996
3. Dustin, E., Rashka, J., Paul, J., Automated Software Testing, Addison Wesley, 1999
4. Pitică Dan, Radu Mihaela, Elemente de testare pentru sisteme electronice, Ed. Albastră, Cluj-Napoca, 2001
5. Cârstea, H., Testarea echipamentelor electronice, Editura Politehnica, 1997

5. Orar

Orarul valabil pentru semestrul curent: www.euroqual.pub.ro/orar/

6. Download

Curs 1. Clasificare defecte
Curs 1. Moduri si mecanisme de defectare
Curs 2. Defecte cristale
Curs 2. Electromigrare
Curs 3-4. Tehnici de detectie a defectelor
Curs 5. Generarea secventelor de test pe principii probabilistice
Curs 6. Testare sisteme mari
Curs 7-8. Sisteme autotestabile
Curs 9. Instrumente de testare
Curs 10. Metodologie de testare software
Curs 10. Tehnici de testare software
Curs 10. Testare software

Actualizat: 8 iulie 2016, 17:08